<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Electronic and Optical Properties of Short-Period Si/Sige Superlattices: Effects of Interfacial Atomic-Scale Roughness

Gabriel Fettu, Anis Attiaoui, Mukherjee Samik, Matthias Bauer et Oussama Moutanabbir

Article de revue (2020)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/51884/
Titre de la revue: ECS Meeting Abstracts (vol. MA2020-01, no G01 : Sili)
DOI: 10.1149/ma2020-01221305mtgabs
URL officielle: https://doi.org/10.1149/ma2020-01221305mtgabs
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:00
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:42
Citer en APA 7: Fettu, G., Attiaoui, A., Samik, M., Bauer, M., & Moutanabbir, O. (2020). Electronic and Optical Properties of Short-Period Si/Sige Superlattices: Effects of Interfacial Atomic-Scale Roughness. ECS Meeting Abstracts, MA2020-01(G01 : Sili), 1305-1305. https://doi.org/10.1149/ma2020-01221305mtgabs

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document