Catherine Desrosiers, Morgan Letenneur, Fabrice Bernier, Farida Cheriet
, Vladimir Braïlovski, Nicolas Piché, François Guibault
Communication écrite (2022)
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Département:
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Nom de la conférence:
11th Conference on Industrial Computed Tomography (ICT 2022)
Lieu de la conférence:
Wels, Austria
Date(s) de la conférence:
2022-02-08 - 2022-02-11
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:50160
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 14:58
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:06
Citer en APA 7:
Desrosiers, C., Letenneur, M., Bernier, F., Cheriet, F., Braïlovski, V., Piché, N., & Guibault, F. (février 2022). Correlative laser confocal microscopy study and multimmodal 2D/3D registration as ground truth for x-ray inspection of internal defects in LPBF manufacturing [Communication écrite]. 11th Conference on Industrial Computed Tomography (ICT 2022), Wels, Austria. https://doi.org/10.58286/26642
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