Catherine Desrosiers, Morgan Letenneur, Fabrice Bernier, Farida Cheriet
, Vladimir Brailovski, Nicolas Piché et François Guibault
Communication écrite (2022)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/50160/ |
| Nom de la conférence: | 11th Conference on Industrial Computed Tomography (ICT 2022) |
| Lieu de la conférence: | Wels, Austria |
| Date(s) de la conférence: | 2022-02-08 - 2022-02-11 |
| DOI: | 10.58286/26642 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.58286/26642 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 14:58 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:53 |
| Citer en APA 7: | Desrosiers, C., Letenneur, M., Bernier, F., Cheriet, F., Brailovski, V., Piché, N., & Guibault, F. (février 2022). Correlative laser confocal microscopy study and multimmodal 2D/3D registration as ground truth for x-ray inspection of internal defects in LPBF manufacturing [Communication écrite]. 11th Conference on Industrial Computed Tomography (ICT 2022), Wels, Austria. https://doi.org/10.58286/26642 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
