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Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence

Boris Ferdman, Lucien Weiss, Onit Alalouf, Yonathan Haimovich et Yoav Shechtman

Article de revue (2018)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/49591/
Titre de la revue: ACS Nano (vol. 12, no 12)
Maison d'édition: American Chemical Society (ACS)
DOI: 10.1021/acsnano.8b05849
URL officielle: https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:03
Dernière modification: 18 avr. 2023 15:03
Citer en APA 7: Ferdman, B., Weiss, L., Alalouf, O., Haimovich, Y., & Shechtman, Y. (2018). Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence. ACS Nano, 12(12), 11892-11898. https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849

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