Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence

Boris Ferdman, Lucien Weiss, Onit Alalouf, Yonathan Haimovich, Yoav Shechtman

Article de revue (2018)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
ACS Nano ( vol. 12 , no 12 )
Maison d'édition:
American Chemical Society (ACS)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:49591
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:05
Citer en APA 7:
Ferdman, B., Weiss, L., Alalouf, O., Haimovich, Y., & Shechtman, Y. (2018). Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence. ACS Nano, 12(12), 11892-11898. https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document