Boris Ferdman, Lucien Weiss, Onit Alalouf, Yonathan Haimovich et Yoav Shechtman
Article de revue (2018)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/49591/ |
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| Titre de la revue: | ACS Nano (vol. 12, no 12) |
| Maison d'édition: | American Chemical Society (ACS) |
| DOI: | 10.1021/acsnano.8b05849 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:16 |
| Citer en APA 7: | Ferdman, B., Weiss, L., Alalouf, O., Haimovich, Y., & Shechtman, Y. (2018). Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence. ACS Nano, 12(12), 11892-11898. https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849 |
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