Boris Ferdman, Lucien Weiss, Onit Alalouf, Yonathan Haimovich et Yoav Shechtman
Article de revue (2018)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | ACS Nano (vol. 12, no 12) |
Maison d'édition: | American Chemical Society (ACS) |
DOI: | 10.1021/acsnano.8b05849 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:39 |
Citer en APA 7: | Ferdman, B., Weiss, L., Alalouf, O., Haimovich, Y., & Shechtman, Y. (2018). Ultrasensitive Refractometry via Supercritical Angle Fluorescence. ACS Nano, 12(12), 11892-11898. https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05849 |
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