<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering

T. Grange, S. Mukherjee, G. Capellini, M. Montanari, L. Persichetti, L. Di Gaspare, S. Birner, A. Attiaoui, Oussama Moutanabbir, M. Virgilio et M. De Seta

Article de revue (2020)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/45177/
Titre de la revue: Physical Review Applied (vol. 13, no 4)
Maison d'édition: American Physical Society (APS)
DOI: 10.1103/physrevapplied.13.044062
URL officielle: https://doi.org/10.1103/physrevapplied.13.044062
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:00
Dernière modification: 05 mai 2023 15:49
Citer en APA 7: Grange, T., Mukherjee, S., Capellini, G., Montanari, M., Persichetti, L., Di Gaspare, L., Birner, S., Attiaoui, A., Moutanabbir, O., Virgilio, M., & De Seta, M. (2020). Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering. Physical Review Applied, 13(4), 14 pages. https://doi.org/10.1103/physrevapplied.13.044062

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document