Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering

Thomas Grange, Samik Mukherjee, Giovanni Capellini, Michele Montanari, Luca Persichetti, L. Di Gaspare, Stefan Birner, Anis Attiaoui, Oussama Moutanabbir, Michele Virgilio, M. De Seta

Article de revue (2020)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
Physical Review Applied ( vol. 13 , no 4 )
Maison d'édition:
American Physical Society (APS)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:45177
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:58
Citer en APA 7:
Grange, T., Mukherjee, S., Capellini, G., Montanari, M., Persichetti, L., Di Gaspare, L., Birner, S., Attiaoui, A., Moutanabbir, O., Virgilio, M., & De Seta, M. (2020). Atomic-Scale Insights into Semiconductor Heterostructures: From Experimental Three-Dimensional Analysis of the Interface to a Generalized Theory of Interfacial Roughness Scattering. Physical Review Applied, 13(4), 14 pages. https://doi.org/10.1103/physrevapplied.13.044062

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document