Samik Mukherjee, Anis Attiaoui, Matthias Bauer et Oussama Moutanabbir
Article de revue (2020)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/44430/ |
| Titre de la revue: | ACS Applied Materials and Interfaces (vol. 12, no 1) |
| Maison d'édition: | American Chemical Society (ACS) |
| DOI: | 10.1021/acsami.9b13802 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acsami.9b13802 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:43 |
| Citer en APA 7: | Mukherjee, S., Attiaoui, A., Bauer, M., & Moutanabbir, O. (2020). 3D Atomic Mapping of Interfacial Roughness and Its Spatial Correlation Length in Sub-10 nm Superlattices. ACS Applied Materials and Interfaces, 12(1), 1728-1736. https://doi.org/10.1021/acsami.9b13802 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
