Fadhel M. Ghannouchi, A. B. Kouki et F. Beauregard
Communication écrite (1993)
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| Renseignements supplémentaires: | Groupe de recherche: Laboratoire de Recherches Micro-Ondes |
|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Centre de recherche: | Autre |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43637/ |
| Nom de la conférence: | 41st ARFTG Conference Digest - Spring 1993 |
| Lieu de la conférence: | Atlanta, GA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 1993-06-18 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/arftg.1993.327014 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/arftg.1993.327014 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:30 |
| Citer en APA 7: | Ghannouchi, F. M., Kouki, A. B., & Beauregard, F. (juin 1993). An Automated Non-Linear Transistor Characterization System with a High-Level Language User-Interface for Easy Control, Visualization and Data Management [Communication écrite]. 41st ARFTG Conference Digest - Spring 1993, Atlanta, GA, United states. https://doi.org/10.1109/arftg.1993.327014 |
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