Dorian Delbergue, Damien Texier, Martin Lévesque
, Philippe Bocher
Article de revue (2019)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of Applied Crystallography
(
vol.
52
,
no
4
)
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43596
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:55
Citer en APA 7:
Delbergue, D., Texier, D., Lévesque, M., & Bocher, P. (2019). Diffracting-grain identification from electron backscatter diffraction maps during residual stress measurements: a comparison between the sin²ψ and cosα methods. Journal of Applied Crystallography, 52(4), 828-843. https://doi.org/10.1107/s1600576719008744
Statistiques
Dimensions
