S. M. Nakhmanson, P. M. Voyles, Normand Mousseau, G. T. Barkema et D. A. Drabold
Article de revue (2001)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce documentURL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/41366/ |
---|---|
Titre de la revue: | Physical Review B (vol. 63, no 23) |
Maison d'édition: | American Physical Society |
DOI: | 10.1103/physrevb.63.235207 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1103/physrevb.63.235207 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:27 |
Citer en APA 7: | Nakhmanson, S. M., Voyles, P. M., Mousseau, N., Barkema, G. T., & Drabold, D. A. (2001). Realistic models of paracrystalline silicon. Physical Review B, 63(23), 235207 (6 pages). https://doi.org/10.1103/physrevb.63.235207 |
---|---|
Statistiques
Dimensions