Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction

Angelika Hahnel, Manfred Reiche, Oussama Moutanabbir, Horst Blumtritt, Holm Geisler, Jan Hontschel et Hans-Jurgen Engelmann

Article de revue (2012)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/39713/
Titre de la revue:	Microscopy and Microanalysis (vol. 18, no 1)
Maison d'édition:	Cambridge University Press
DOI:	10.1017/s1431927611012657
URL officielle:	https://doi.org/10.1017/s1431927611012657
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:	25 sept. 2024 16:24

Citer en APA 7:	Hahnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hontschel, J., & Engelmann, H.-J. (2012). Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 18(1), 229-40. https://doi.org/10.1017/s1431927611012657
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