Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism

Chao, Chen; Panerati, Jacopo; Hafnaoui, Imane; Beltrame, Giovanni; Chao, Chen; Panerati, Jacopo; Hafnaoui, Imane; Beltrame, Giovanni

Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism

Chen Chao, Jacopo Panerati, Imane Hafnaoui, Giovanni Beltrame

Communication écrite (2017)

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Département:

Département de génie informatique et génie logiciel

ISBN:

9781538631669

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/38479/

Nom de la conférence:

12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017)

Lieu de la conférence:

Toulouse, France

Date(s) de la conférence:

2017-06-14 - 2017-06-16

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/sies.2017.7993373

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:38479

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:04

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:29

Citer en APA 7:

Chao, C., Panerati, J., Hafnaoui, I., & Beltrame, G. (juin 2017). Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism [Communication écrite]. 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017), Toulouse, France (10 pages). https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373

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