Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism

Chen Chao, Jacopo Panerati, Imane Hafnaoui et Giovanni Beltrame

Communication écrite (2017)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/38479/
Nom de la conférence:	12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017)
Lieu de la conférence:	Toulouse, France
Date(s) de la conférence:	2017-06-14 - 2017-06-16
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/sies.2017.7993373
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:33

Citer en APA 7:	Chao, C., Panerati, J., Hafnaoui, I., & Beltrame, G. (juin 2017). Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism [Communication écrite]. 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017), Toulouse, France (10 pages). https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373
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