Chen Chao, Jacopo Panerati, Imane Hafnaoui et Giovanni Beltrame
Communication écrite (2017)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| ISBN: | 9781538631669 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38479/ |
| Nom de la conférence: | 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017) |
| Lieu de la conférence: | Toulouse, France |
| Date(s) de la conférence: | 2017-06-14 - 2017-06-16 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/sies.2017.7993373 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:22 |
| Citer en APA 7: | Chao, C., Panerati, J., Hafnaoui, I., & Beltrame, G. (juin 2017). Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism [Communication écrite]. 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017), Toulouse, France (10 pages). https://doi.org/10.1109/sies.2017.7993373 |
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