Haidong Chen, Wenquan Che, Yue Chao, Wenjie Feng et Ke Wu
Article de revue (2017)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36680/ |
| Titre de la revue: | IET Microwaves, Antennas & Propagation (vol. 11, no 1) |
| Maison d'édition: | Institution of Engineering and Technology |
| DOI: | 10.1049/iet-map.2016.0150 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1049/iet-map.2016.0150 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:29 |
| Citer en APA 7: | Chen, H., Che, W., Chao, Y., Feng, W., & Wu, K. (2017). Revisiting and improvement of thru-reflect-line calibration for accurate measurement of substrate integrated waveguide components. IET Microwaves, Antennas & Propagation, 11(1), 29-35. https://doi.org/10.1049/iet-map.2016.0150 |
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