Haidong Chen, Wenquan Che, Yue Chao, Wenjie Feng, Ke Wu
Article de revue (2017)
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Titre de la revue
:
IET Microwaves, Antennas & Propagation
(
vol.
11
,
no
1
)
Maison d'édition:
Institution of Engineering and Technology
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36680
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Chen, H., Che, W., Chao, Y., Feng, W., & Wu, K. (2017). Revisiting and improvement of thru-reflect-line calibration for accurate measurement of substrate integrated waveguide components. IET Microwaves, Antennas & Propagation, 11(1), 29-35. https://doi.org/10.1049/iet-map.2016.0150
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