Thomas Poirié, Thomas Schmitt, Étienne Bousser, Ludvik Martinu
et Jolanta-Ewa Sapieha
Article de revue (2017)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36541/ |
| Titre de la revue: | Tribology International (vol. 109) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.triboint.2016.12.053 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.triboint.2016.12.053 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:29 |
| Citer en APA 7: | Poirié, T., Schmitt, T., Bousser, É., Martinu, L., & Sapieha, J.-E. (2017). Influence of internal stress in optical thin films on their failure modes assessed by in situ real-time scratch analysis. Tribology International, 109, 355-366. https://doi.org/10.1016/j.triboint.2016.12.053 |
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