Thomas Poirié, Thomas Schmitt, Étienne Bousser, Ludvik Martinu
, Jolanta-Ewa Sapieha
Article de revue (2017)
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Titre de la revue
:
Tribology International
(
vol.
109
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36541
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Poirié, T., Schmitt, T., Bousser, É., Martinu, L., & Sapieha, J.-E. (2017). Influence of internal stress in optical thin films on their failure modes assessed by in situ real-time scratch analysis. Tribology International, 109, 355-366. https://doi.org/10.1016/j.triboint.2016.12.053
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