Chen Chao, Jacopo Panerati, Giovanni Beltrame
Communication écrite (2016)
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Département:
ISBN:
9781509036233
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016)
Lieu de la conférence:
Connecticut
Date(s) de la conférence:
2016-09-19 - 2016-09-20
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36354
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Chao, C., Panerati, J., & Beltrame, G. (septembre 2016). Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016), Connecticut. https://doi.org/10.1109/dft.2016.7684067
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