Chen Chao, Jacopo Panerati et Giovanni Beltrame
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| ISBN: | 9781509036233 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36354/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016) |
| Lieu de la conférence: | Connecticut |
| Date(s) de la conférence: | 2016-09-19 - 2016-09-20 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dft.2016.7684067 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dft.2016.7684067 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:20 |
| Citer en APA 7: | Chao, C., Panerati, J., & Beltrame, G. (septembre 2016). Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016), Connecticut. https://doi.org/10.1109/dft.2016.7684067 |
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