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Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis

Chen Chao, Jacopo Panerati et Giovanni Beltrame

Communication écrite (2016)

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Département: Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/36354/
Nom de la conférence: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016)
Lieu de la conférence: Connecticut
Date(s) de la conférence: 2016-09-19 - 2016-09-20
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/dft.2016.7684067
URL officielle: https://doi.org/10.1109/dft.2016.7684067
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:05
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:20
Citer en APA 7: Chao, C., Panerati, J., & Beltrame, G. (septembre 2016). Effects of online fault detection mechanisms on Probabilistic Timing Analysis [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2016), Connecticut. https://doi.org/10.1109/dft.2016.7684067

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