H. Bouchard, A. Azelmad, John F. Currie, Michel Meunier, S. Blain et T. Darwall
Communication écrite (1993)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/35705/ |
Nom de la conférence: | 1993 MRS Spring Meeting |
Lieu de la conférence: | San Francisco, CA |
Date(s) de la conférence: | 1993-04-12 - 1993-04-16 |
Titre de la revue: | MRS Proceedings (vol. 308) |
Maison d'édition: | Materials Research Society |
DOI: | 10.1557/proc-308-63 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1557/proc-308-63 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:19 |
Citer en APA 7: | Bouchard, H., Azelmad, A., Currie, J. F., Meunier, M., Blain, S., & Darwall, T. (avril 1993). Thermal Stress in Doped Silicate Glasses (B,P) Deposited by PECVD and LPCVD [Communication écrite]. 1993 MRS Spring Meeting, San Francisco, CA. Publié dans MRS Proceedings, 308. https://doi.org/10.1557/proc-308-63 |
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