Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si₈₀Ge₂₀ Polycrystalline Alloys

Vasilevskiy, D.; Simard, J. M.; Caillat, T.; Masut, Rémo A.; Turenne, Sylvain; Vasilevskiy, D.; Simard, J. M.; Caillat, T.; Masut, Rémo A.; Turenne, Sylvain

Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si₈₀Ge₂₀ Polycrystalline Alloys

D. Vasilevskiy, J. M. Simard, T. Caillat, Rémo A. Masut , Sylvain Turenne

Article de revue (2016)

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Département:

Département de génie mécanique
Département de génie physique

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/34218/

Titre de la revue :

Journal of Electronic Materials ( vol. 45 , no 3 )

Maison d'édition:

Springer

DOI:

10.1007/s11664-015-4101-1

URL officielle:

https://doi.org/10.1007/s11664-015-4101-1

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:34218

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:06

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:22

Citer en APA 7:

Vasilevskiy, D., Simard, J. M., Caillat, T., Masut, R. A., & Turenne, S. (2016). Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si₈₀Ge₂₀ Polycrystalline Alloys. Journal of Electronic Materials, 45(3), 1540-1547. https://doi.org/10.1007/s11664-015-4101-1

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