<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Built-in self-test approach for medium to high-resolution digital-to-analog converters

Karim Arabi, Bozena Kaminska et Janusz Rzeszut

Communication écrite (1994)

Un lien externe est disponible pour ce document
Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/33608/
Nom de la conférence: 3rd Asian Test Symposium
Lieu de la conférence: Nara, Japon
Date(s) de la conférence: 1994-11-15 - 1994-11-17
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/ats.1994.367203
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ats.1994.367203
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:16
Citer en APA 7: Arabi, K., Kaminska, B., & Rzeszut, J. (novembre 1994). Built-in self-test approach for medium to high-resolution digital-to-analog converters [Communication écrite]. 3rd Asian Test Symposium, Nara, Japon. https://doi.org/10.1109/ats.1994.367203

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document