Karim Arabi, Bozena Kaminska et Janusz Rzeszut
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33608/ |
| Nom de la conférence: | 3rd Asian Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Nara, Japon |
| Date(s) de la conférence: | 1994-11-15 - 1994-11-17 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ats.1994.367203 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ats.1994.367203 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:16 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., Kaminska, B., & Rzeszut, J. (novembre 1994). Built-in self-test approach for medium to high-resolution digital-to-analog converters [Communication écrite]. 3rd Asian Test Symposium, Nara, Japon. https://doi.org/10.1109/ats.1994.367203 |
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