Karim Arabi, Bozena Kaminska et Janusz Rzeszut
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33607/ |
| Nom de la conférence: | IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design |
| Lieu de la conférence: | San Jose, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1994-11-06 - 1994-11-10 |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iccad.1994.629860 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iccad.1994.629860 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:16 |
| Citer en APA 7: | Arabi, K., Kaminska, B., & Rzeszut, J. (novembre 1994). New built-in self-test approach for digital-to-analog and analog-to-digital converters [Communication écrite]. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, San Jose, CA, USA. Publié dans IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. https://doi.org/10.1109/iccad.1994.629860 |
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