Bechir Ayari et Bozena Kaminska
Article de revue (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33586/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (vol. 13, no 3) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/43.265676 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/43.265676 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 06:54 |
| Citer en APA 7: | Ayari, B., & Kaminska, B. (1994). New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 13(3), 353-358. https://doi.org/10.1109/43.265676 |
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