Dentcho Ivanov, John F. Currie, H. Bouchard, A. Lecours, J. Andrian, Arthur Yelon
et Suzie Poulin
Article de revue (1994)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33199/ |
| Titre de la revue: | Solid State Ionics (vol. 67, no 3-4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/0167-2738(94)90020-5 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/0167-2738%2894%2990020-5 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:15 |
| Citer en APA 7: | Ivanov, D., Currie, J. F., Bouchard, H., Lecours, A., Andrian, J., Yelon, A., & Poulin, S. (1994). Sputtered silicate-limit NASICON thin films for electrochemical sensors. Solid State Ionics, 67(3-4), 295-299. https://doi.org/10.1016/0167-2738%2894%2990020-5 |
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