Rachid Kermouche, Yvon Savaria
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1994)
Lieu de la conférence:
Montréal, Québec
Date(s) de la conférence:
1994-10-17 - 1994-10-19
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:33169
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:21
Citer en APA 7:
Kermouche, R., & Savaria, Y. (octobre 1994). Defect and fault tolerant scan chains [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1994), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/dftvs.1994.630029
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