Rachid Kermouche et Yvon Savaria
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/33169/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1994) |
| Lieu de la conférence: | Montréal, Québec |
| Date(s) de la conférence: | 1994-10-17 - 1994-10-19 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1994.630029 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1994.630029 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:15 |
| Citer en APA 7: | Kermouche, R., & Savaria, Y. (octobre 1994). Defect and fault tolerant scan chains [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1994), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/dftvs.1994.630029 |
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