Saab Khaled, Bozena Kaminska, Bernard Courtois et Marcelo Lubaszewski
Communication écrite (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32099/ |
| Nom de la conférence: | 13th IEEE VLSI Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Princeton, NJ, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-04-30 - 1995-05-03 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/vtest.1995.512617 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vtest.1995.512617 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:14 |
| Citer en APA 7: | Khaled, S., Kaminska, B., Courtois, B., & Lubaszewski, M. (avril 1995). Frequency-based BIST for analog circuit testing [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1995.512617 |
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