Di-Luan Le et Fadhel M. Ghannouchi
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32031/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (vol. 44, no 4) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/19.392869 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/19.392869 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Le, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (1995). Noise measurements of microwave transistors using an uncalibrated mechanical stub tuner and a built-in reverse six-port reflectometer. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 44(4), 847-852. https://doi.org/10.1109/19.392869 |
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