Noise measurements of microwave transistors using an uncalibrated mechanical stub tuner and a built-in reverse six-port reflectometer

Lê, Di-Luân; Ghannouchi, Fadhel M.; Lê, Di-Luân; Ghannouchi, Fadhel M.

Noise measurements of microwave transistors using an uncalibrated mechanical stub tuner and a built-in reverse six-port reflectometer

Di-Luân Lê, Fadhel M. Ghannouchi

Article de revue (1995)

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Renseignements supplémentaires:

Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique

Département:

Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/32031/

Titre de la revue :

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ( vol. 44 , no 4 )

Maison d'édition:

Institute of Electrical and Electronics Engineers

DOI:

10.1109/19.392869

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/19.392869

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:32031

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:25

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:19

Citer en APA 7:

Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (1995). Noise measurements of microwave transistors using an uncalibrated mechanical stub tuner and a built-in reverse six-port reflectometer. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 44(4), 847-852. https://doi.org/10.1109/19.392869

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