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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
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Lê, D.-L., Poiré, P., & Ghannouchi, F. M. (1998). Six-Port-Based Active Source-Pull Measurement Technique. Measurement Science & Technology, 9(8), 1336-1342. Lien externe
Lê, D.-L. (1995). Caractérisation non linéaire multi-fréquentielle des transistors micro-ondes et application à la conception optimale des mélangeurs de fréquence à MESFETs [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible
Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (1995). Noise measurements of microwave transistors using an uncalibrated mechanical stub tuner and a built-in reverse six-port reflectometer. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 44(4), 847-852. Lien externe
Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (septembre 1995). Système de mesures multi-fréquentiel pour optimiser la performance électrique des dispositifs micro-ondes non-linéaires [Communication écrite]. Canadian conference on electrical and computer engineering CCECE'95, Montréal, Québec. Lien externe
Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (mai 1994). Network analysis of nonlinear devices under multi-frequency excitation [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - IMTC '94, Hamamatsu, Japan. Lien externe
Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (1994). Source-pull measurements using reverse six-port reflectometers with application to MESFET mixer design. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 42(9), 1589-1595. Lien externe
Poiré, P., Lê, D.-L., & Ghannouchi, F. M. (avril 1995). PC controlled fully automatic active load-pull measurement system using a pseudo-gradient algorithm [Communication écrite]. 1995 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Naltham, MA. Lien externe