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Design for testability of integrated operational amplifiers using oscillation-test strategy

Karim Arabi, Bozena Kaminska et Stephen Sunter

Communication écrite (1996)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31565/
Nom de la conférence: 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96
Lieu de la conférence: Austin, TX, USA
Date(s) de la conférence: 1996-10-07 - 1996-10-09
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/iccd.1996.563529
URL officielle: https://doi.org/10.1109/iccd.1996.563529
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:13
Citer en APA 7: Arabi, K., Kaminska, B., & Sunter, S. (octobre 1996). Design for testability of integrated operational amplifiers using oscillation-test strategy [Communication écrite]. 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96, Austin, TX, USA. https://doi.org/10.1109/iccd.1996.563529

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