Naim Ben-Hamida, Bechir Ayari et Bozena Kaminska
Communication écrite (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31512/ |
| Nom de la conférence: | 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96 |
| Lieu de la conférence: | Austin, TX, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1996-10-07 - 1996-10-09 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iccd.1996.563546 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iccd.1996.563546 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Ben-Hamida, N., Ayari, B., & Kaminska, B. (octobre 1996). Testing of embedded A/D converters in mixed-signal circuit [Communication écrite]. 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96, Austin, TX, USA. https://doi.org/10.1109/iccd.1996.563546 |
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