M. Caron, Gérald Gagnon, Raymond Gauvin, P. Hovington, D. Drouin, John F. Currie, Y. Tremblay, L. Ouellet, M. Bigerger et F. Wong
Communication écrite (1996)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31444/ |
| Nom de la conférence: | 13th International VLSI Multilevel Interconnection (V-MIC) Conference |
| Lieu de la conférence: | Santa Clara, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1996-06-18 - 1996-06-20 |
| Maison d'édition: | VMIC |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Caron, M., Gagnon, G., Gauvin, R., Hovington, P., Drouin, D., Currie, J. F., Tremblay, Y., Ouellet, L., Bigerger, M., & Wong, F. (juin 1996). An iterative procedure based on Monte Carlo simulation to determine the thickness and composition of VLSI metallization [Communication écrite]. 13th International VLSI Multilevel Interconnection (V-MIC) Conference, Santa Clara, CA, USA. |
|---|---|
Statistiques
Aucune statistique n'est disponible.
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
