Mounir Fares et Bozena Kaminska
Communication écrite (1994)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31326/ |
| Nom de la conférence: | 1994 3rd International Conference on the Economics of Design, Test, and Manufacturing |
| Lieu de la conférence: | Austin, TX, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1994-05-16 - 1994-05-17 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icedtm.1994.496097 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icedtm.1994.496097 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 06:51 |
| Citer en APA 7: | Fares, M., & Kaminska, B. (mai 1994). Test strategy selection for multi-chip systems [Communication écrite]. 1994 3rd International Conference on the Economics of Design, Test, and Manufacturing, Austin, TX, USA. https://doi.org/10.1109/icedtm.1994.496097 |
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