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Efficiency of TiN diffusion barrier between Al and Si prepared by reactive evaporation and rapid thermal annealing

Gérald Gagnon, John F. Currie, J. L. Brebner et T. Darwall

Article de revue (1996)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/31310/
Titre de la revue: Journal of Applied Physics (vol. 79, no 10)
Maison d'édition: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.362418
URL officielle: https://doi.org/10.1063/1.362418
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:13
Citer en APA 7: Gagnon, G., Currie, J. F., Brebner, J. L., & Darwall, T. (1996). Efficiency of TiN diffusion barrier between Al and Si prepared by reactive evaporation and rapid thermal annealing. Journal of Applied Physics, 79(10), 7612-7620. https://doi.org/10.1063/1.362418

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