Gérald Gagnon, S. C. Gujrathi, M. Caron, John F. Currie, Y. Tremblay, L. Ouellet, M. Biberger et R. Reynolds
Article de revue (1996)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
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Département: | Département de génie physique |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31309/ |
Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 80, no 1) |
Maison d'édition: | American Institute of Physics |
DOI: | 10.1063/1.362804 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.362804 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
Citer en APA 7: | Gagnon, G., Gujrathi, S. C., Caron, M., Currie, J. F., Tremblay, Y., Ouellet, L., Biberger, M., & Reynolds, R. (1996). Effect of the oxidation of TiN on the stability of the Al/TiN interface. Journal of Applied Physics, 80(1), 188-195. https://doi.org/10.1063/1.362804 |
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