Jean-Jacques Laurin
, Gael Tanneau et Cevdet Akyel
Article de revue (1996)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31130/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (vol. 45, no 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/19.481351 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/19.481351 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Laurin, J.-J., Tanneau, G., & Akyel, C. (1996). Waveguide permittivity measurement using variable-length samples and an uncalibrated reflectometer. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 45(1), 298-301. https://doi.org/10.1109/19.481351 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
