Jean-Jacques Laurin
, Gael Tanneau, Cevdet Akyel
Article de revue (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
(
vol.
45
,
no
1
)
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31130
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Laurin, J.-J., Tanneau, G., & Akyel, C. (1996). Waveguide permittivity measurement using variable-length samples and an uncalibrated reflectometer. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 45(1), 298-301. https://doi.org/10.1109/19.481351
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