A. Hammache, Gilles Brassard, Michel A. Bouchard
, F. Beauregard, Cevdet Akyel, Fadhel M. Ghannouchi
Communication écrite (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique ;
Nom historique du département: Département de géologie (Université de Montréal)
Nom historique du département: Département de géologie (Université de Montréal)
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1997 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference, IMTC
Lieu de la conférence:
Ottawa, Can
Date(s) de la conférence:
1997-05-19 - 1997-05-21
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30414
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:16
Citer en APA 7:
Hammache, A., Brassard, G., Bouchard, M. A., Beauregard, F., Akyel, C., & Ghannouchi, F. M. (mai 1997). Thermal characterization of MESFETs using I-V pulsed and DC measurements [Communication écrite]. 1997 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference, IMTC, Ottawa, Can. https://doi.org/10.1109/imtc.1997.604035
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