A. Hammache, Gilles Brassard, Michel A. Bouchard
, F. Beauregard, Cevdet Akyel et Fadhel M. Ghannouchi
Communication écrite (1997)
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| Renseignements supplémentaires: |
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique ; Nom historique du département: Département de géologie (Université de Montréal) |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30414/ |
| Nom de la conférence: | 1997 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference, IMTC |
| Lieu de la conférence: | Ottawa, Can |
| Date(s) de la conférence: | 1997-05-19 - 1997-05-21 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/imtc.1997.604035 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/imtc.1997.604035 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:21 |
| Citer en APA 7: | Hammache, A., Brassard, G., Bouchard, M. A., Beauregard, F., Akyel, C., & Ghannouchi, F. M. (mai 1997). Thermal characterization of MESFETs using I-V pulsed and DC measurements [Communication écrite]. 1997 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference, IMTC, Ottawa, Can. https://doi.org/10.1109/imtc.1997.604035 |
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