N. Bertrand, B. Drévillon, A. Gheorghiu, C. Sénémaud, Ludvik Martinu
, Jolanta-Ewa Sapieha
Article de revue (1998)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films
(
vol.
16
,
no
1
)
Maison d'édition:
American Vacuum Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29841
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
Bertrand, N., Drévillon, B., Gheorghiu, A., Sénémaud, C., Martinu, L., & Sapieha, J.-E. (1998). Adhesion improvement of plasma-deposited silica thin films on stainless steel substrate studied by x-ray photoemission spectroscopy and in situ infrared ellipsometry. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 16(1), 6-12. https://doi.org/10.1116/1.581013
Statistiques
Dimensions
