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Modélisation de pannes dans les circuits logiques bipolaires en mode courant et méthodes de test adaptées

Serge Patenaude

Master's thesis (1998)

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Additional Information: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Department: Department of Electrical Engineering
Department of Computer Engineering and Software Engineering
Academic/Research Directors: Yvon Savaria
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/29441/
Institution: École Polytechnique de Montréal
Date Deposited: 18 Apr 2023 15:23
Last Modified: 18 Apr 2023 15:23
Cite in APA 7: Patenaude, S. (1998). Modélisation de pannes dans les circuits logiques bipolaires en mode courant et méthodes de test adaptées [Master's thesis, École Polytechnique de Montréal].

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