Mémoire de maîtrise (1998)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| Directeurs ou directrices: |
Yvon Savaria |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29441/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:10 |
| Citer en APA 7: | Patenaude, S. (1998). Modélisation de pannes dans les circuits logiques bipolaires en mode courant et méthodes de test adaptées [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. |
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Statistiques
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