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Modélisation de pannes dans les circuits logiques bipolaires en mode courant et méthodes de test adaptées

Serge Patenaude

Mémoire de maîtrise (1998)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
Directeurs ou directrices: Yvon Savaria
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/29441/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:23
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:10
Citer en APA 7: Patenaude, S. (1998). Modélisation de pannes dans les circuits logiques bipolaires en mode courant et méthodes de test adaptées [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal].

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