X. Y. Zeng, S. J. Xu, T. Yoneyama, K. M. Luk, Ke Wu
Article de revue (1999)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
International Journal of Infrared and Millimeter Waves
(
vol.
20
,
no
3
)
Maison d'édition:
Kluwer Academic Publishers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:28456
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:05
Citer en APA 7:
Zeng, X. Y., Xu, S. J., Yoneyama, T., Luk, K. M., & Wu, K. (1999). Systematic investigation on leaky characteristics for NRD guide with arbitrary profile of cross-section. International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 20(3), 491-503. https://doi.org/10.1023/a%3a1021777718054
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