X. Y. Zeng, S. J. Xu, T. Yoneyama, K. M. Luk et Ke Wu
Article de revue (1999)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/28456/ |
| Titre de la revue: | International Journal of Infrared and Millimeter Waves (vol. 20, no 3) |
| Maison d'édition: | Kluwer Academic Publishers |
| DOI: | 10.1023/a:1021777718054 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1023/a%3a1021777718054 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:18 |
| Citer en APA 7: | Zeng, X. Y., Xu, S. J., Yoneyama, T., Luk, K. M., & Wu, K. (1999). Systematic investigation on leaky characteristics for NRD guide with arbitrary profile of cross-section. International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 20(3), 491-503. https://doi.org/10.1023/a%3a1021777718054 |
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