N. Boyer, B. Oliver, A. Hagley, D. P. Masson, Martine Simard-Normandin, Michel Meunier
Article de revue (2000)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films
(
vol.
18
,
no
2
)
Maison d'édition:
American Vacuum Society
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:28321
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:04
Citer en APA 7:
Boyer, N., Oliver, B., Hagley, A., Masson, D. P., Simard-Normandin, M., & Meunier, M. (2000). Temperature Distribution Over a Gaas Heterojunction Bipolar Transistor Measured by Fluorescent Microthermal Imaging. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 18(2), 754-756. https://doi.org/10.1116/1.582173
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