N. Boyer, B. Oliver, A. Hagley, D. P. Masson, Martine Simard-Normandin et Michel Meunier
Article de revue (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/28321/ |
| Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 18, no 2) |
| Maison d'édition: | American Vacuum Society |
| DOI: | 10.1116/1.582173 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.582173 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:16 |
| Citer en APA 7: | Boyer, N., Oliver, B., Hagley, A., Masson, D. P., Simard-Normandin, M., & Meunier, M. (2000). Temperature Distribution Over a Gaas Heterojunction Bipolar Transistor Measured by Fluorescent Microthermal Imaging. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 18(2), 754-756. https://doi.org/10.1116/1.582173 |
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