P. Vado, Yvon Savaria
, Y. Zoccarato, C. Robach
Communication écrite (2000)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0780354826
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000)
Lieu de la conférence:
Geneva, Switzerland
Date(s) de la conférence:
2000-05-28 - 2000-05-31
Maison d'édition:
Presses Polytech. Univ. Romandes
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27772
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Vado, P., Savaria, Y., Zoccarato, Y., & Robach, C. (mai 2000). A methodology for validating digital circuits with mutation testing [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000), Geneva, Switzerland. https://doi.org/10.1109/iscas.2000.857100
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