P. Vado, Yvon Savaria
, Y. Zoccarato et C. Robach
Communication écrite (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27772/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000) |
| Lieu de la conférence: | Geneva, Switzerland |
| Date(s) de la conférence: | 2000-05-28 - 2000-05-31 |
| Maison d'édition: | Presses Polytech. Univ. Romandes |
| DOI: | 10.1109/iscas.2000.857100 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.2000.857100 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:08 |
| Citer en APA 7: | Vado, P., Savaria, Y., Zoccarato, Y., & Robach, C. (mai 2000). A methodology for validating digital circuits with mutation testing [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000), Geneva, Switzerland. https://doi.org/10.1109/iscas.2000.857100 |
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