<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Refractive Indices of InGaAsP Lattice-Matched to GaAs at Wavelengths Relevant to Device Design

S. G. Wallace, B. J. Robinson, P. Mascher, H. K. Haugen, D. A. Thompson, D. Dalacu et Ludvik Martinu

Article de revue (2000)

Un lien externe est disponible pour ce document
Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/27754/
Titre de la revue: Applied Physics Letters (vol. 76, no 19)
Maison d'édition: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.126477
URL officielle: https://doi.org/10.1063/1.126477
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:22
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:15
Citer en APA 7: Wallace, S. G., Robinson, B. J., Mascher, P., Haugen, H. K., Thompson, D. A., Dalacu, D., & Martinu, L. (2000). Refractive Indices of InGaAsP Lattice-Matched to GaAs at Wavelengths Relevant to Device Design. Applied Physics Letters, 76(19), 2791-2793. https://doi.org/10.1063/1.126477

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document