S. G. Wallace, B. J. Robinson, P. Mascher, H. K. Haugen, D. A. Thompson, D. Dalacu et Ludvik Martinu
Article de revue (2000)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27754/ |
| Titre de la revue: | Applied Physics Letters (vol. 76, no 19) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.126477 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.126477 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:08 |
| Citer en APA 7: | Wallace, S. G., Robinson, B. J., Mascher, P., Haugen, H. K., Thompson, D. A., Dalacu, D., & Martinu, L. (2000). Refractive Indices of InGaAsP Lattice-Matched to GaAs at Wavelengths Relevant to Device Design. Applied Physics Letters, 76(19), 2791-2793. https://doi.org/10.1063/1.126477 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
