Alexis Lefèvre, Laurent J. Lewis, Ludvik Martinu
et Michael R. Wertheimer
Article de revue (2001)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27254/ |
| Titre de la revue: | Physical Review B (vol. 64, no 11) |
| Maison d'édition: | American Physical Society |
| DOI: | 10.1103/physrevb.64.115429 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1103/physrevb.64.115429 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:08 |
| Citer en APA 7: | Lefèvre, A., Lewis, L. J., Martinu, L., & Wertheimer, M. R. (2001). Structural Properties of Silicon Dioxide Thin Films Densified by Medium-Energy Particles. Physical Review B, 64(11), 115429-115429. https://doi.org/10.1103/physrevb.64.115429 |
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