<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Focused electron beam induced deposition of high resolution magnetic scanning probe tips

I. Utke, Fabio Cicoira, G. Jaenchen, P. Hoffmann, L. Scandella, B. Dwir, E. Kapon, D. Laub, Ph Buffat, N. Xanthopoulos et H. J. Mathieu

Communication écrite (2001)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

Un lien externe est disponible pour ce document
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/26215/
Nom de la conférence: Making Functional Materials with Nanotubes (Symposium Z)
Lieu de la conférence: Boston, MA, United states
Date(s) de la conférence: 2001-11-26 - 2001-11-29
Maison d'édition: Materials Research Society
DOI: 10.1557/proc-706-z9.24.1
URL officielle: https://doi.org/10.1557/proc-706-z9.24.1
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:21
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:06
Citer en APA 7: Utke, I., Cicoira, F., Jaenchen, G., Hoffmann, P., Scandella, L., Dwir, B., Kapon, E., Laub, D., Buffat, P., Xanthopoulos, N., & Mathieu, H. J. (novembre 2001). Focused electron beam induced deposition of high resolution magnetic scanning probe tips [Communication écrite]. Making Functional Materials with Nanotubes (Symposium Z), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1557/proc-706-z9.24.1

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document