Ivo Utke, Fabio Cicoira
, G. Jaenchen, P. Hoffmann, L. Scandella, B. Dwir, E. Kapon, D. Laub, Ph Buffat, N. Xanthopoulos, H. J. Mathieu
Communication écrite (2001)
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Nom de la conférence:
Making Functional Materials with Nanotubes (Symposium Z)
Lieu de la conférence:
Boston, MA, United states
Date(s) de la conférence:
2001-11-26 - 2001-11-29
Maison d'édition:
Materials Research Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26215
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Utke, I., Cicoira, F., Jaenchen, G., Hoffmann, P., Scandella, L., Dwir, B., Kapon, E., Laub, D., Buffat, P., Xanthopoulos, N., & Mathieu, H. J. (novembre 2001). Focused electron beam induced deposition of high resolution magnetic scanning probe tips [Communication écrite]. Making Functional Materials with Nanotubes (Symposium Z), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1557/proc-706-z9.24.1
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