Arthur Yelon
, Alain Rochefort, S. Sheng, Edward Sacher
Article de revue (2003)
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Département:
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Titre de la revue
:
Solar Energy Materials and Solar Cells
(
vol.
78
,
no
1-4
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25390
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:00
Citer en APA 7:
Yelon, A., Rochefort, A., Sheng, S., & Sacher, E. (2003). Irradiation-induced structural changes in hydrogenated amorphous silicon as measured by X-ray photoemission spectroscopy. Solar Energy Materials and Solar Cells, 78(1-4), 391-398. https://doi.org/10.1016/s0927-0248%2802%2900444-0
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