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Irradiation-induced structural changes in hydrogenated amorphous silicon as measured by X-ray photoemission spectroscopy

Arthur Yelon, Alain Rochefort, S. Sheng et Edward Sacher

Article de revue (2003)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/25390/
Titre de la revue: Solar Energy Materials and Solar Cells (vol. 78, no 1-4)
Maison d'édition: Elsevier
DOI: 10.1016/s0927-0248(02)00444-0
URL officielle: https://doi.org/10.1016/s0927-0248%2802%2900444-0
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:20
Dernière modification: 05 mai 2023 15:31
Citer en APA 7: Yelon, A., Rochefort, A., Sheng, S., & Sacher, E. (2003). Irradiation-induced structural changes in hydrogenated amorphous silicon as measured by X-ray photoemission spectroscopy. Solar Energy Materials and Solar Cells, 78(1-4), 391-398. https://doi.org/10.1016/s0927-0248%2802%2900444-0

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